赛默飞（原FEI）Talos F200X S/TEM 透射电镜 加快纳米尺度分析

产地：

捷克

型号：

Talos F200X S/TEM

透射电子显微镜在材料科学 、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量，必须制备更薄的超薄切片，通常为50~ 100nm。

产品描述

高分辨率成像，获取更高质量的数据 
Talos F200X S/TEM 融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能、行业领先的能谱仪 (EDS) 信号检测功能及基于成分面分析的三维化学表征功能。Thermo Scientific Velox TM S/TEM 控制软件通过智能扫描引擎、基于多个 STEM 探测器的多通道合并技术以及差分相位衬度 (DPC) 成像技术，显著改善了 S/TEM 成像质量，可以更好地分析电磁结构，并实行快速、准确的 EDS 数据处理和定量分析。

X-FEG 高亮度电子枪可以在提供高达标准肖特基场发射电子枪五倍亮度的同时保持较小的会聚角。用户可以获取高信噪比以及卓越的 STEM、EDS 图像分辨率和更多高分辨 TEM 应用。X-FEG 高亮度电子枪所具有的高稳定性及使用寿命很长等特点，使其具有更高的成像效率。

视野更大，速度更快 

Talos 快速 D/TEM 成像支持高分辨率以及原位动态成像。 Thermo Scientific Ceta 16M TM 相机的视场范围更大，图像采集分辨率可高达每秒 25 帧，同时，压电样品台可确保高灵敏度、无漂移成像和精确样品导航，从而节约时间并允许用户采集更多样品数据。

加快纳米尺度分析以更快获取答案 

Talos F200X S/TEM 采用赛默飞专利的 Super-XTM 集成 EDS 系统，配备四个硅漂移 X 射线探测器，具有极高灵敏度，每秒可收集高达 105 幅能谱。X-TWIN 物镜集成，最大限度地提高了 X 射线收集效率，同时达到给定束流(甚至是低强度 EDS 信号)下的理想输出计数率。

更轻松地开展研究
Talos S/TEM 采用友好的数字用户界面和领先的人体工程学设计，允许多名科学家访问成像和分析工作流程。快速图像采集与简单易用的操作平台相结合，即使是经验不足的操作者也能够快速收集结果。人机分离的远程操作设计显著提高了易用性、舒适性和电镜的稳定性。此外，为了确保维持工作效率，Talos S/TEM 配备了新型设备状态记录和诊断软件，以便收集重要的仪器参数，便于远程诊断和支持。

产品参数

X-FEG 亮度       1.8 × 109 A/cm2 srad(@200 kV) 
总电子束电流     > 50 nA 
探针电流       1.5 nA @ 1 nm 束斑 (200 kV) 
Super-X EDS 系统    采用对称设计的 SDD 能谱探头，无窗设计，遮板保护 
能量分辨率  ≤ 136 eV Mn-Kα @10 kcps(输出) 
快速 EDS 面分析    像素驻留时间短至 10 μs 
STEM HAADF 分辨率  0.16 nm 
EDX 立体角 0.9 srad 
TEM 信息分辨率 0.12 nm
最大衍射角度 24 ̊ 
双倾样品杆的最大倾斜角度 ±35° α 倾角 /±30° β 倾角 
样品台最大倾斜角度 ±90 ̊

特点与用途

领先的光学性能：恒定功率 A-TWIN 物镜 

 最佳易用性：快速轻松的操作切换，适用于多用户环境 
 超稳定平台：恒定功率物镜、压电样品台、可靠的系统外壳和远程操作确保最高的稳定性 
 SmartCam 摄像头：数字搜索和查看相机显著提高所有应用的处理能力，让使用者可以离开暗室进行远程操作。 
 完全集成的快速相机：Ceta 16M 像素 CMOS 相机可提供大视场和高读取速度(512 x 512 时为 25 fps) 
 全面的远程操作：自动光阑系统与 Ceta 相机相结合，支持全面的远程操作 
 丰富的分析功能：Talos S/TEM 使用 EDS 三维成像技术将样品成分分析能力从二维扩展至三维。 

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