日立荧光分布成像系统EEM View

产地：

日本

型号：

EEM View

上市时间：2019年10月
创新点主要有两个方面：硬件方面：全球首创将将荧光分光度计与CMOS相机结合在一起，能够同时观察样品光谱和图像的技术。软件方面：运用了智能光谱算法，可以获取样品任意区域的光谱信息。常规的荧光分光光度计测得的是样品表面信息平均化的信号，得到的是一条荧光光谱，这个新的系统能够对样品表面进行分区，从而获得不同区域的光谱信号，使得光谱信息细致化了。

一、荧光分布成像系统（EEM View）简介

       作为荧光分光光度计的配件系统，这是全球首创将相机与荧光分光光度计的完美结合，融合了智能算法的先进技术。能够同时获取样品图像和光谱信息。

 

新型荧光分布成像系统可安装到日立F-7000/71000荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球漫反射后均匀照射到样品，利用荧光光度计标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱，积分球下方的CMOS相机可获得样品图像，并利用独特的AI光谱图像处理算法，可以同时得到反射和荧光成分图像。

    

二、  荧光分布成像系统特点：

    1. 可以全面测定样品的光谱数据（反射光、荧光特性）

在不同光源条件下（白光和单色光）拍摄样品图像，（区域：Φ20mm、空间分辨率：0.1 mm左右、波长范围：360-700nm），同时利用先进的光谱算法，分别显示荧光图像和反射图像, 根据图像可获得不同区域的光谱信息（荧光光谱、反射光谱）

荧光分布成像系统软件分析（EEM View Analysis）界面(样品：LED电路板)

2.  样品安装简单，适用于各种样品测试

样品只需摆放到积分球上，安装十分简单！

丰富的样品支架

支持精确测量的校正工具

荧光分布成像系统是一种全新的技术，将它配置到荧光分光光度计中，改变了常规荧光光度计只能获得样品表面区域平均化信息的现状，可以查看样品图像任意区域的光谱信息，十分适合涂料、材料、油墨、LED、化工等领域。

日立荧光分布成像系统EEM View由日立高新技术公司 为您提供，如您想了解更多关于日立荧光分布成像系统EEM View报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。