岛津/KRATOS X射线光面议
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赛默飞EscaLab QXi X射线光电子能谱仪是一款可扩展的多技术表面分析平台。其技术亮点在于优异的定量光谱成像与快速高分辨平行成像，空间分辨率优于1微米。仪器配备双探测器设计与微聚焦单色源，实现高灵敏度分析及无需背底校正的定量元素分布。强大的Avantage软件系统提供全数字化控制与高效数据处理，并具备一键式荷电补偿与高度自动化操作，为各类材料研究提供世界一流的测试体验。
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