- 产地:
- 荷兰
- 型号:
- LiteScope
AFM-SEM同步联用技术(通用版)是一款革命性原子力显微镜,可与主流品牌SEM无缝集成,实现原位、同条件的多模态关联分析。其核心优势包括:通过SEM实时导航精确定位感兴趣区域,同步获取AFM的力学/电学/磁学性能数据(如C-AFM、MFM、PFM等)与SEM形貌信息,支持电池、纳米材料等敏感样品的高分辨表征。兼容性强,适配赛默飞、蔡司等多数电镜品牌,并可选配纳米压痕、气氛控制等模块扩展功能,满足复杂分析需求。典型应用涵盖合金相分析、固态电池界面研究及纳米线力学性能测试。

















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PROMETHEUS 流化床原子层沉积系统
Phenom Particle Metric 颗粒测量器
飞纳台式扫描电镜
飞纳台式电镜 Phenom 温度控制样品
Climate 原位气相加热样品杆
Lightning Arctic TEM 原位冷冻热电
飞纳台式场发射扫描电镜 Phenom Pha
ParticleX Steel 钢铁夹杂物分析系
VSParticle 纳米粒子发生器

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