- 产地:
- 荷兰
- 型号:
- LiteScope
AFM-SEM同步联用技术(通用版)是一款革命性原子力显微镜,可与主流品牌SEM无缝集成,实现原位、同条件的多模态关联分析。其核心优势包括:通过SEM实时导航精确定位感兴趣区域,同步获取AFM的力学/电学/磁学性能数据(如C-AFM、MFM、PFM等)与SEM形貌信息,支持电池、纳米材料等敏感样品的高分辨表征。兼容性强,适配赛默飞、蔡司等多数电镜品牌,并可选配纳米压痕、气氛控制等模块扩展功能,满足复杂分析需求。典型应用涵盖合金相分析、固态电池界面研究及纳米线力学性能测试。

















通过仪器仪表网认证 


飞纳台式扫描电子显微镜 Phenom Pro
PANDORA 多功能台式原子层沉积系统
ChemiSEM 彩色成像技术
Lightning TEM 原位热电样品杆
ParticleX TC 汽车清洁度分析系统
飞纳台式扫描电镜
ParticleX 全自动锂电正负极杂质分
精选
精选
德飞荧光电镜关联机

鲁公网安备37021402001368号