电致发光量子效率测量系统 SpectrumTEQ-EL

型号：

SpectrumTEQ-EL电致发光量子效率测量系统

产地：

美国

SpectrumTEQ-EL系列电致发光量子效率测量系统，可以针对发光器件的光电特性进行有效测量，系统搭配的QEpro光谱仪为业内公认旗舰系列，具有信噪比、低杂散光等特性，可确保测量结果得准确性；同时，系统配有强大的测试软件，对话框式的软件操作界面让测量过程变得更为简单。

测量参数

量子效率

亮度

量子效率随电流密度的曲线

色坐标

辐射通量，光通量

峰值波长

 

应用领域

无机电致发光

有机电致发光

分子薄膜EL器件

 

产品优势

体积小巧：便于灵活使用及运输。

原位测量：可放至手套箱内，实现原位测量

流程化操作：设备无需频繁校准。




产品参数

 

系统配置
配置方案		方案1		方案2
光谱仪	型号	QEPro / QE65Pro（可选）
	光谱范围(nm)	350-1100
	信噪比	1000:01:00
	分辨率	2.5 nm (FWHM)
	动态范围	85000:1（QEPro单次采集）；25000:1（QE65Pro单次采集）
	AD位数	18-bit（QEPro）；16-bit（QE65Pro）
积分球	尺寸	3.3”		1.5”
	材质	Spectralon
源表		Keithley2400
光纤	芯径	1000um（可更换其他芯径）
校准灯		角度	2 Pi	型号	HL-3-INT-CAL
		亮度	50 流明	功率	5W（电功率）
无线遥控		通道数	4	无遥控
软件		SpectrumTEQ-EL专用软件




注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途