绝对量子效率测量系统

型号：

C

产地：

日本

绝对量子效率测量系统

滨松 荧光/发光材料和器件参数的评估系统目录：

绝对量子效率测量系统
用于发光材料的采用光致发光法的绝对量子效率测量系统。薄型材料、液体溶液和粉末等都能被分析。

绝对量子效率测量系统Quantaurus-QY

外量子效率测量系统
采用积分球的高精度外量子效率测量系统。它实现了不受待测物发光角特性影响的高精度测量。

绝对量子效率测量系统产品：

采用了光致发光法（photoluminescence）来快速而准确地测定绝对量子效率。该系统装置包括一个激发电源、一个单色仪、一个氮气流积分球和一个同步探测整个谱域的CCD光谱仪。专用软件易于操作。两种样品夹持器能用于薄膜、粉末，比色皿能用于液体样品。系统能用于多种领域，包括工业、生物和学术研究等。

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途