多功能偏振控制仪MPC-面议
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双折射应力仪 PA-200面议
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美国Hinds成立于1971年，凭借其zhuan利的PEM（光弹变调制）技术研发了高稳定的应力双折射测量系统，具有目前世界上zui高的精度，可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角度).
? 光学器件
? 液晶玻璃基板, 液晶滤光片
? 激光晶体
? DVDs
? 光刻机部件, 如氟化钙窗口, 融石英光学器件,光掩膜板等
? 相机镜头
? 太阳能硅片,半导体晶圆
注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途
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第1年
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