介电温谱测试仪/介电温谱测量系统

型号：

AC:220V

产地：

北京

介电温谱测试仪/介电温谱测量系统

高低温介电温谱/频谱测量系统

一、 概述：

高低温介电常数适用于各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物质的一项重要的物理性质，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下，测量介质在该环境温度下的介电常数。

二、技术指标：

1、电极直径：6mm  数量：1个

2、电机屏蔽：内径--304不锈钢  外径--聚四氟

3、测试电极：单通道

4、切换频率：可以自由设定试样切换时间

5、试验方式：手动模式  自动模式

6、试验数据：可导出测试原始数据，同时可以输出测试曲线及打印试验报告

7、测量频率：以实际电桥为准

8、温度范围：室温~600°

9、加温速率：0.5℃--2.5℃/min

10、数 据 线：铜镀银，低温屏蔽线

10、机  箱：Q235钢板表面高温喷塑而成

11、仪器供电：AC:220V  50Hz   功率：2KW

12、测试电桥：国产

13、试验环境：请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。

仪器使用时应远离强电磁场，以免干扰实验结果。

介电温谱测试仪/介电温谱测量系统

介电温谱测试仪/介电温谱测量系统满足标准：

GB/T1409-2006 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T 5654-2007 液体绝缘材料 相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量

GB/T 21216-2007 绝缘液体 测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法

GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

GB/T 5594.4-1985__电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法__介质损耗角正切值的测试方法

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一、介电温谱测试仪/介电温谱测量系统产品概述

本仪器是一种xian进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，测量各种绝缘材料、绝缘套管、绝缘液体、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点。

本测试仪采用变频电源技术，利用单片机和电子技术进行自动频率变换、模/数转换和数据运算，达到抗干扰能力强、测试速度快、精度高、操作简便的功能。

二、性能特点

1、仪器测量准确度高，可满足油介损测量要求，因此只需配备标准油杯，和专用测试线即可实现油介损测量。

2、采用变频技术来消除现场50Hz工频干扰，即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。

3、过流保护功能，在试品短路或击穿时仪器不受损坏。

4、内附标准电容和高压电源，便于现场测试，减少现场接线。

5、仪器采用大屏幕液晶显示器，测试过程通过汉字菜单提示既直观又便于操作。

三、技术指标

技术指标

  1、试验环境温度：10℃～30℃（LCD液晶屏应避免长时间日照）

  2、相对湿度：20%～80%

  3、供电电源：电压：220V±10%

  4、外形尺寸：长*宽*高=470mm*320mm*360mm

  5、重量：16kg

  6、输出功率：1.5KVA

  7、显示分辨率：3位、4位（内部全是6位）

  8、测试方法：正接法、反接法、外接试验电压法

  9、测量范围：内接试验电压：

tgδ：99.9%

Cx ：50 pF＜Cx（2.5KV）＜0.3UF

2.5KV  Cx＜0.3uF

0.5KV Cx＜1.5uF

外接试验电压：

由外接试验变压器输出功率而定

 10、基本测量误差：介质损耗（tgδ）：1%±0.09%  

电容容量（Cx）：1.5%±1pF

 11、分辨率： tgδ：0.01%   

Cx ：0.1pF

     12、试样要求：直径为50MM、100MM、38MM

介电温谱测试仪/介电温谱测量系统

公司开发的高温阻抗、介电测量系统软件将高温测试平台、高温测试夹具与WK6500系列、Agilent(Keysight) 4294A/E4980A/E4990A、Tonghui TH2826/2827/TH2810、Solartron 1260 LCR测量设备无缝连接,实现了自动完成高温环境下的阻抗、介电参数的测量与分析。另外，还可根据用户提供的其他LCR品牌或型号完成定制需求。

图谱数据一次测量，同时输出

  软件可根据实验方案设计，通过测量C和D值，自动完成介电常数和介电损耗随频率、电压、偏压、温度、时间多维变化的曲线。一次测量，同时输出，测量效率高、数据丰富多样。

数据库存档，数据分析更高效

  软件自带数据库存储系统，数据可保存至系统数据库，可供历史数据查询与分析。另外，还支持Excel、txt文件格式导出保存。

介电温谱测试仪/介电温谱测量系统

高低温介电温谱测量系统

HCDM系列?高低温材料介电参数测量系统是我司开发研制的全系列宽频、宽温区材料介电参数测量仪(介电温谱仪)。介电温谱仪可以通过与Agilent、同惠等LCR电桥、高频分析仪的完美结合达到极宽的频率范围（3μHz~1GHz）；提供多种控温系统及高温炉，达到极宽的控温（-200℃~1250℃）。是实验室开发和研究新材料的重要测量手段，并且在生产质量控制和优化上也是强有力的工具。可以应用于材料、物理、化学等领域。用于分析宽频、高低温条件下被测样品的介电系数、阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量，得到这些变化曲线的频率谱、温度谱、介电谱曲线。可广泛应用于铁电压电陶瓷材料、半导体器件及功能薄膜材料等研究。

高温四探针测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。

高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。

介电温谱测试仪/介电温谱测量系统

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途