您可以
电议 北京
日本电子JED-2300/2300F 能谱仪 可以进行微区的点分析、线分析及面分析
日本电子株式会社(JEOL)
日本电子JED-2300/2300F 能谱仪
日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 细分数据
日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 小鼠大脑
日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 自动获取图像
日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构 能对样品进行自动切割
日本电子Serial Block-face SEM 3View图像三维重构
日本电子JIB-4700F 双束加工观察系统 最多能实时观察4个检测器的图像
日本电子JIB-4700F 双束加工观察系统 晶体分析
日本电子JIB-4700F 双束加工观察系统 元素分析
日本电子JIB-4700F 双束加工观察系统 形貌观察
日本电子JIB-4700F 双束加工观察系统
日本电子JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统 双样品台
日本电子JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统 沉积碳
日本电子JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统 研磨
日本电子JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统 对样品表面进行SIM观察
日本电子JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统
日本电子JSM-IT100钨灯丝扫描电子显微镜 生物技术
日本电子JSM-IT100钨灯丝扫描电子显微镜 纳米技术
日本电子JSM-IT100钨灯丝扫描电子显微镜 材料测试