Tescan新品发布：CLARA™第三代超高分辨扫描电镜，赋能纳米材料表征

     【仪器仪表网 新品动态】2026年7月，Tescan新品发布：第三代CLARA™超高分辨扫描电镜（SEM），专为纳米尺度材料表征设计。该设备聚焦于低着陆电压下的高分辨成像，能够在不喷涂导电层的条件下，稳定表征非导电、磁性、电子束敏感及多孔等疑难样品，有效减少制样伪影，zui大限度还原样品原始状态。

　　CLARA™的核心优势在于其创新的多衬度探测架构。通过集成镜筒内探测与能量滤波背散射电子（BSE）功能，用户可在同一区域采集表面敏感、形貌、材料及近表层等多重互补信息，揭示常规成像难以捕捉的微观差异。同时，系统兼容EDS、EBSD、拉曼光谱等联用技术，并支持低真空模式，为xian进材料、微电子、失效分析等领域提供一体化分析平台。

　　在操作效率方面，CLARA™搭载Tescan Essence™软件与Wide Field Optics®大视野光路，支持全景导航与高分辨成像无缝切换，配合自动聚焦、消像散及3D防碰撞模型，大幅缩短定位与采集时间。该系统既满足资深用户对高性能的需求，也通过引导式界面降低新手门槛，是科研实验室与公共测试平台进行高效、精准纳米表征的理想工具。