【仪器仪表网 厂商新闻】半导体晶圆厂为保障气体输送系统的安全与纯净,需对长距离管道进行高灵敏度氦气泄漏测试。传统检测方法虽精度高,但在长管道或复杂系统中,氦气从泄漏点传输至探测器耗时过长,导致测试周期延长、信号响应延迟,影响建设效率。

为解决这一瓶颈,INFICON将氦气检漏与受控载气流量相结合。通过在管道一端引入微量载气(如氮气),使泄漏的氦气迅速混合并被快速输送至另一端检测器,响应时间缩短至数秒。该方法不仅显著提升检测速度与可靠性,还能降低背景氦气浓度,增强信号纯净度与灵敏度,尤其适用于洁净室环境。
这一方案为晶圆厂带来多项收益:加快测试进程、提高复杂安装环境下的可靠性、减少示踪气体使用,助力半导体制造商实现高效投产与稳定运行。




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