锂电池正极粉末中铜颗粒含铜颗粒数量的测定 NexION系列ICP-MS

　　【仪器网 行业应用】锂电池的关键材料中的杂质元素的浓度，对电池的充放电性能起到至关重要的作用。一般金属元素杂质分析采用ICP-OES。而ICP-OES由于其仪器原理的局限，无法满足部分浓度较低杂质元素的检测。ICP-MS检出限相比ICP-OES更低，能很好地解决这一问题。针对锂电池元素杂质分析，珀金埃尔默NexION系列ICP-MS具备如下优势：

　　采用AMS全基体进样系统，在线通入稀释气，配合大锥孔设计，有效解决高酸及高颗粒样品中易堵塞锥口的问题。

　　采用四极杆离子偏转器(QID)，90度偏转离子，可以获得优异的基体耐受性、仪器稳定性以及更低的记忆效应。

　　单颗粒(SP)-ICP-MS评估铜颗粒、含铜颗粒的数量及粒径分布。

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　　样品信息

　　正极粉末

　　下图中较大的块状物体为200目(约70um)的单质铜粉。其余的为正极粉末，从显微镜中看出，正极粉末的粒径差异较大，有部分亚um基本的颗粒存在。

　　图1 样品信息图

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　　样品前处理

　　称取0.500g样品，加入5mL王水，于石墨消解仪上125℃消解2h，冷却后用纯水定容至50mL，上机测定总Cu含量。称取0.100g、0.200g样品，用纯水定容至50mL，用涡旋混匀后，悬浊液上机测定Cu颗粒。

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