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OmniFluo990-ST是一款超快时间分辨光谱测试系统，专为皮秒至微秒量级的快速荧光寿命及瞬态过程测量设计。其技术核心在于通过光电偏转将时间轴转换为空间图像，实现小于5ps的高时间分辨率与200-900nm的宽光谱覆盖。系统具备高光谱分辨率（<0.1nm）与宽单次摄谱范围（>200nm），并集成控制分析软件。它适用于闪烁体、钙钛矿、半导体等材料的超快发光研究，并能与显微成像、瞬态吸收等模块灵活联用，提供全面的超快测试解决方案。
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