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低温磁场下的微区光学测试解决方案。它支持最高达12 T磁场，低至2.8 K环境下的微区光学测试。包括荧光，荧光寿命，反射光谱，拉曼光谱，偏振分辨二次谐波，光电流，磁光克尔与反射磁圆二色。主要应用于磁性二维材料或磁性薄膜材料与器件的磁性表征，居里温度表征，表面拓扑磁结构表征，磁畴扫描成像
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