0.1nm形貌重复性白光干涉仪

产地：

深圳

型号：

SuperViewW系列

中图仪器SuperView W系列0.1nm形貌重复性白光干涉仪一站式解决超光滑/粗糙材质、纳米/微米级精度、批量检测效率低等复杂表面测量难题。

一、核心功能

1. 测量能力：覆盖全类型样件表面，无需切换测量模式，适配从精密器件到批量工件的多样化检测场景。

2. 自动化体验：操纵杆便捷操控所有轴位，支持阵列式多区域测量、Mark点自动定位校正，批量样品切换测量点位无需重复调试。

3. 数据处理与导出：内置去噪、滤波等四大数据处理模块，粗糙度、几何轮廓等五大分析功能，支持Word/Excel/PDF格式报表导出，满足质检存档与数据分析需求。

4. 稳定与安全保障：气浮隔振底座隔绝振动干扰，0.1nm分辨率环境噪声评价功能确保数据精准；双重镜头防撞保护、光源自动熄灯设计，降低设备损耗与操作风险。

二、自研软件平台：适配多机型，拓展性更强

Xtremevision Pro第二代3D测量软件平台，集成图像扫描、3D分析、影像测量、自动化测量四大模块，适配中图W/VT/WT系列所有3D仪器机型。支持白光干涉与共聚焦显微镜自动切换，可直接测量微观平面轮廓的距离、角度、半径等参数，搭配灵活自动拼接功能，自定义测量区域无限制。

三、应用场景

广泛应用于精密制造、电子半导体、汽车零部件、新材料、医疗器械等领域，可对产品表面粗糙度、磨损/腐蚀情况、台阶高度、加工缺陷、孔隙间隙等形貌特征进行精准测量分析，为产品质量控制、工艺优化提供可靠数据支撑。

SuperView W系列0.1nm形貌重复性白光干涉仪助力企业提升质检效率、降低成本、保障产品品质。现面向全国制造企业、检测机构、科研单位开放合作，提供定制化测量解决方案与专业技术支持。

恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

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