白光干涉三维轮廓仪

产地：

深圳

型号：

SuperViewW系列

从半导体晶圆到3C玻璃屏，白光干涉三维轮廓仪如何实现“无损”精准检测？

在半导体制造、3C电子加工及光学元件研发等领域，表面粗糙度的微小偏差都可能决定产品的最终性能与良率 。然而，传统的接触式测量往往面临划伤样品、无法测量微观复杂结构的痛点。白光干涉仪（光学3D表面轮廓仪）凭借非接触式测量优势，为您提供覆盖多行业的解决方案：

1.半导体领域：针对超光滑硅晶片表面，设备可实现0.1nm及以下的最小可测粗糙度 。非接触式原理避免了探针划伤风险，即使是0.2nm级别的超光滑表面也能实现“无损伤精准扫描” 。

2.3C电子与光学：无论是3C玻璃屏的触控灵敏度关联测量，还是光学镜片的超精密检测，都能依据ISO 25178标准自动计算出Ra、Rz、RMS等关键参数 。

3.微观复杂结构：利用Z向扫描模块与3D建模算法，设备能从底部到顶部逐层采集，精准还原纳米级的微观起伏 。

选择白光干涉三维轮廓仪，就是选择一种更安全、更精密的产品质量管控方式 。

白光干涉三维轮廓仪由深圳市中图仪器股份有限公司 为您提供，如您想了解更多关于白光干涉三维轮廓仪报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。