第4年
日立分析 EA1000VX X射线荧光分析仪
台式XRF光谱仪（RoHS） | EA1280
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透射电子显微镜HT7800II
X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
- 产地：
- 日本
- 型号：
- ZA4000
日立ZA4000系列原子吸收分光光度计具备快速连续测定模式，最多可对12种元素进行连续测定，显著提升分析效率。该设备采用偏振塞曼校正法和双检测器技术，提供高精度和高稳定性分析，尤其在火焰法测定中，检测效率提升30%。此外，还具有突沸自动检测、石墨管污染确认等功能，确保操作简便且准确，适合各种应用场景。
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