牛津仪器X-MaxTEM大面积硅漂移探测器

型号：

X-MaxTEM

产地：

英国

X-MaxN 80T

用于TEM 的X-Max N系列SDD采用新型晶体、电子电路和封装技术，是一款真正的“新一代”SDD。

X-Max N TEM探测器采用新的低噪声探测器设计，具有出色的分辨率和灵敏度 - 即使在高计数率下也是如此。

X-MaxN 80 T 的大面积80mm2晶体专为常规TEM应用而设计，可提供卓越的立体角和分析性能。

旨在获得高输出效率与低能端X射线的高灵敏度。

出色的分辨率，在50,000cps下保证Mn的分辨率。

优化的检出角，可获得高质量的峰背比和轻元素检测能力。

其出色的表现在所有类别TEM上均得到验证，包括场发射、球差校正电镜。

利用AZtecTEM TruMap软件计算有助于快速获取元素分布图，包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理。

X-MaxN TSR

这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率，尤其是对于轻元素，意味着所有能量都有更多的计数。

*配置、极靴和TEM相关。TEM中EDS探测器性能中一个重要的指标是立体角。这取决于电镜和极靴设计。对于X-MaxN TSR，我们优化了探测器和样品之间的距离来提高立体角。

适用于传统的200kV场发射TEM。

轻元素的收集效率提高了3倍。

在低能量X射线采集方面，峰背比或分辨率方面没有降低。

X-MaxN 100TLE

X-Max N 100TLE作为我们TEM SDD探测器的旗舰产品，为纳米科学领域的场发射和球差校正透射电镜提供了可靠的解决方案。

X-Max N 100TLE采用改进的晶体形状，无窗配置和创新的机械设计，可提供真正的“创新一代”SDD性能。这种组合对所有元素提供了非常高的灵敏度。

例如，当在与传统检测器相同的条件下，它将检测到更低含量的元素，从而有效地分析纳米级别的杂质和掺杂剂 。

在电子束敏感样品降解之前收集更多数据，将纳米颗粒和纳米管细节分析推向新的水平。

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途