- 型号:
- JEM-ARM200F
- 产地:
- 日本
技术参数:
1.分辨率:STEM 0.08 nm
TEM0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector)
2.放大倍数:STEM 100 to 150,000,000x
TEM50 to 2,000,000x
3.加速电压: 200 kV
4.球差校正器STEM Cs corrector Standard
TEM Cs corrector Optional
5.其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc.
主要特点:
原子分辨率 S/TEM
标配照明系统的球差校正器,STEM分辨率 0.08 nm, 为世界最高的商业化透射电镜,同时使其具有无与伦比的分析功能。
极强的抗干扰能力和超高稳定性
JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。
可以选配成像系统的球差校正器
点分辨率可以提高到 0.11 nm.
操作极为简单
克服了球差校正透射电镜难于操作的难题。
注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

















第1年



日本电子JBX-6300FS 电子束光刻系统
日本电子JIB-4000PLUS 聚焦离子束加
日本电子SightSKY Camera 光纤耦合C
日本电子JXA-iSP200电子探针显微分
日本电子JSM-IT510 InTouchScope™
日本电子JCM-6000plus NeoScope 台
日本电子JNM-ECZL 系列 核磁共振谱
日本电子JCM-6000plus NeoScope 台
日本电子JNM-ECZS 系列 核磁共振谱
日本电子EM-05500TGP TEM断层扫描系

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