JEOL JIB-4700F 聚焦离子束(FIB)

型号：

JIB-4700F

产地：

日本

仪器简介：

JIB-47000F是集成扫描电镜和聚焦离子束于一身高性能仪器。电子光学系统采用场发射电子枪，可以对进行实时研磨监控。该仪器又是一个微区观察、样品分析、微区研磨的集合体，应用范围广泛。

技术参数：

FIB 分辨率: 5nm, 30kV
SEM分辨率: 1.2 nm（15 kV）1.6 nm（1KV）
FIB束流：zui大90nA

SEM束流：zui大300nA

气体输入系统 x1-3

主要特点：

监控、切割、组装和三维图像重构连续操作
2大束流，zui大90nA
3.提供空前稳定的图像
4.气体注入系统用于刻蚀和沉积
5.zui大装样 150 mm
6.气锁式样品交换
7.五轴全对中样品台
8.多个样品分析接口

9.三维图像、能谱、EBSD


注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途