日本电子JEM-ARM300F2冷场发射12极子球差校正透射电镜 两种物镜极靴

产地：

日本

型号：

JEM-ARM300F2

实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率

JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。

STEM-HAADF像的保证分辨率达到了前所未有的58pm

采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达58pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。

ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器　※选配件

ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。

强大的冷场发射电子枪HyperCF300

标配了全新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。

两种物镜极靴

为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。

丰富的选购件

能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。

大范围的加速电压设置

标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围极广。

新开发的真空系统

新的排气系统达到了极高的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，最大限度地减轻了对样品的污染和损伤。

高稳定的镜筒和样品台

整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。

冷场发射12极子球差校正透射电镜信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供，如您想了解更多关于冷场发射12极子球差校正透射电镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

2020年02月14日，日本电子（JEOL Ltd.）总裁兼首席运营官Izumi Oi宣布发布全新原子分辨率分析电子显微镜JEM-ARM300F2（GRAND ARM™2）。

■ 主要特点

1 超高空间分辨率与能谱分析的组合优化。

新开发的FHP2物镜极靴的特点如下：

1）提高了能谱分析效率到两倍以上。

2）低光学系数，低Cc系数和低Cs系数使得超高空间分辨率和高灵敏度X射线分析能够在一定范围的加速电压下执行。

（保证的STEM分辨率：300kV时53pm，80kV时96pm）*

*在配置STEM扩展轨迹像差（ETA）校正器时

2 用于物镜的超宽极靴（WGP）能谱分析灵敏度超高，原位扩展极强。

1）WGP极靴的能谱固体角为2.2 sr。

2）WGP极靴宽度可达6mm，更方便进行各种类型的原位实验。

3 JEOL开发的12极子球差（Cs）校正器和自动校正软件。

1）FHP2极靴，GRAND ARM™2在300 kV时的STEM分辨率达到53 pm。

2）WGP极靴，GRAND ARM™2在300 kV时的STEM分辨率达到59 pm。

3）JEOL COSMO™（自动校正软件）使快速，轻松执行像差校正成为可能。

4 新式冷场发射枪（Cold-FEG）。

GRAND ARM™2配备了新式Cold-FEG，可从电子源提供较小的能量散布。稳定性更好。

5 减轻外部干扰的外壳

这种新外壳是减少外部干扰（例如气流，室内温度变化和噪音）的标准。

■ 主要规格

日本电子JEM-ARM300F2冷场发射12极子球差校正透射电镜 两种物镜极靴由日本电子株式会社(JEOL) 为您提供，如您想了解更多关于日本电子JEM-ARM300F2冷场发射12极子球差校正透射电镜 两种物镜极靴报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。