- 产地:
- 日本
- 型号:
- X Line MPLAPON系列
拥有百年历史的 XRF始终致力于为生命科学和工业领域的先进应用开发高品质的物镜。我们可提供品类众多的无限远校正物镜,其重量轻,且齐焦45毫米,几乎可以集成到任何光学机械系统。
我们的创新型光学器件可让您实现包括可见光和近红外波长、长工作距离、浸没、盖玻片校正和白光干涉仪在内的各种高质量成像和测量应用目标。
我们的 X Line 和MPLAPON系列 等UIS2无限远校正光学器件具备波前像差控制、出色的色彩再现性以及从紫外到近红外各种波长范围实现平场高透射率的先进镀膜,能够获得出色的成像质量和性能。我们的光学器件针对像差进行无补偿全面校正,因此能够与诸如镜筒透镜等组件配合使用。
用于活细胞的荧光成像
利用低荧光玻璃和减反射涂层以及低自发荧光的胶结材料提高了荧光信噪比
由于采用可减少超宽带光谱反射的UW多层涂层,因此物镜透射率在整个可见光和近红外波长范围均十分出色

实现 XRF最。高。品质的色彩校正和分辨率
适用于盖玻片和非盖玻片样品
可提供适用于需要使用盖玻片应用的水浸物镜

我们为非盖玻片应用推出两个物镜系列,适用于需要在焦平面和物镜末端之间增加距离的诸如具有不规则形貌、脆弱结构或在整体光学器件上受到机械约束的样品。
LMPLFLN系列
与 XRF标准物镜相比具有更长工作距离
提供用于明场专用或明场和暗场的5倍、10倍、20倍、50倍和100倍率

SLMPLN系列
XRF最长工作距离的物镜
提供适用于明场应用的20倍、50倍和100倍率

用于对在近红外范围具有最大透射率的硅和玻璃表面下方特征和缺陷进行成像
高数值孔径(NA)可提高红外图像的分辨率和亮度
20倍、50倍和100倍物镜配有可校正硅和玻璃厚度所致像差的校正环,实现综合对比度的提升

专为Mirau白光干涉仪而设计
具备较高的温度承受能力
每个透镜均可通过内置校正环调节实现热漂移补偿
0.8数值孔径(NA)在0.7毫米的工作距离下可实现更出色的聚光性能

XRFMPLAPON平场复消色差系列物镜,拥有 XRF很高水准的色差校正和高分辨率,确保了高水准的波相差校正功能。可对应微分干涉及简易偏光观察。
明视场专用物镜
高度校正了色差的平面复消色差物镜
是世界上首例将光学性能(波前像差)的弥散比例※1保证※2到95%以上的通用物镜
对应微分干涉、简易偏振光观察和AF单元( XRF产品U-AFA2M)
※1 弥散比例:
在理想的无像差光学系统的结像平面上的聚光比例(中心强度)作为100%时,与其相对,用%比表示的在实际光学系统中的聚光比例。数值越高,表示光学系统的质量越好。
※2 保证值的定义:
在本公司指定的条件下,用 XRF制造的透射波面测量干涉仪器评定的测量值(测量环境:温度23℃±1℃;评定条件:在瞳孔直径的97%的范围内测量)。

OEM组件-物镜透镜X Line MPLAPON系列由仪景通光学科技(上海)有限公司 为您提供,如您想了解更多关于OEM组件-物镜透镜X Line MPLAPON系列报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。




















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