第1年
SGN-3 光功率测试仪
HW-8E/8F型比色皿支架
天津港东 XGX-1光学非线性测量仪
F-280荧光分光光度计
SGO-10 卷积定理光学实验装置
WGD-SMA入射/出射SMA905模块
SGY-3 光电探测原理试验仪
WGDZ光谱实验装置
FSA-1 应用光谱学实验
- 产地：
- 天津
- 型号：
- SGH-2
近平行光入射到厚度变化均匀、折射率均匀的薄膜/空气间隙等物质上，其上下表面的反射光干涉而形成的干涉条纹。薄膜/空气间隙厚度相同的地方形成同条干涉条纹，故称等厚干涉。本实验除了研究典型的牛顿环和楔形平板干涉以外，还研究了一些牛顿环装置的变种，如正交柱面镜等形成的椭圆，双曲等干涉条纹现象。
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