第1年
日本电子JMS-T200GC AccuTOF GC气相
日本电子JXA-iHP200F 场发射电子探
日本电子JSM-IT800超高分辨热场发射
日本电子JMS-T200GC AccuTOF GC气相
日本电子JCM-6000plus NeoScope 台
日本电子IB-19530CP截面样品制备装
日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切
日本电子JNM-ECZL 系列 核磁共振谱
日本电子JEM-ARM200F NEOARM 原子分
日本电子JEM-1400Flash 透射电子显
- 产地：
- 日本
- 型号：
- IB-09060CIS
产品特点：
带有样品冷却系统，对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。
①通过液氮制冷，减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。
②可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*
③冷却保持时间长，大大减少了热损伤。
④在装有液氮的情况下，也可以交换样品。
*zei大样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。
产品规格
| IB-09060CIS | |||
| 离子加速电压 | 1 ～ 8kV | ||
| 倾斜角 | zei大±6º(0.1º/步) | ||
| 离子束直径 | 500μm(FWHM) | ||
| 研磨速率 | 5μm/min(加速电压:8kV、Si换算) | ||
| 使用气体 | 氩气 | ||
| zei大样品尺寸 | 2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度) | ||
| 样品冷却 | 样品架冷却温度 | -120℃ | |
| 冷却到达时间 | 1小时 | ||
| 冷却保持时间 | 8小时 | ||
| 样品取出时间 | 30分钟 | ||
| 压力测试 | 潘宁规 | ||
| 主抽真空系统 | 涡轮分子泵 | ||
| CCD相机 | 内置 | ||
| 尺寸 重量 | 主机 | 500mm(W)×600mm(D)×542mm(H)、70kg | |
| 机械泵 | 150mm(W)×427mm(D)×230.5mm(H)、16kg | ||
| 液晶显示器 | 326mm(W)×173mm(D)×380mm(H)、3.7kg | ||
安装条件
| IB-09060CIS | |
| 电源 | 单相100 ～ 120V±10%、50/60Hz、0.5 ～ 0.6kVA |
| 接地线 | 独立地线(100Ω以下) |
| 氩气 | 使用压力: 0.15±0.05MPa(1.0 ～ 2.0kg/cm²) 纯度99.9999%以上(氩气、气瓶及调压器由客户自备) 金属配管连接口:JISB0203 RC1/8 |
| 室温 | 20 ～ 25℃ |
| 湿度 | 60% 以下 |
*产品外观及技术规格可能未经预告而有所变更。
IB-09060CIS™ 低温冷冻离子切片仪
易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长，有效地抑制了热损伤
日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪 制作出薄膜样品由日本电子株式会社(JEOL) 为您提供，如您想了解更多关于日本电子IB-09060CIS低温冷冻离子切片仪 制作出薄膜样品报价、参数等信息 ，欢迎来电或留言咨询。
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