- 产地:
- 日本
- 型号:
- JEM-ARM200F NEOARM
技术参数:
1.分辨率:STEM图像分辨: 0.071 nm
TEM点分辨:0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector)
2.放大倍数:STEM 100 to 150,000,000x
TEM50 to 2,000,000x
3.加速电压: 200 kV
4.球差校正器STEM Cs corrector Standard
TEM Cs corrector Optional
5.其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc.
主要特点:
原子分辨率 S/TEM
标配照明系统的球差校正器,STEM分辨率 0.071 nm, 为世界zei高的商业化透射电镜,同时使其具有无与伦比的分析功能。
极强的抗干扰能力和超高稳定性
JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。
可以选配成像系统的球差校正器
点分辨率可以提高到 0.11 nm.
自动球差校正软件,操作极为简单
克服了球差校正透射电镜难于操作的难题。
JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜由日本电子株式会社(JEOL) 为您提供,如您想了解更多关于JEM-ARM200F NEOARM 原子分辨分析型球差校正透射电镜报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。
















第1年



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