赛默飞材料分析透射电镜Talos F200X TEM

产地：

捷克

型号：

Talos F200X TEM

赛默飞最深入的材料分析透射电镜Talos F200X TEM

高质量、高分辨率的 (S)TEM 成像和精确的 EDS

可提供高分辨率、高亮度（冷）场发射枪

可提供具有极佳清洁度的柱内 Super-X G2 EDS

Talos F200X G2 TEM

适用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及准确化学定量的 TEM 显微镜。

Thermo Scientific Talos F200X STEM 是一款扫描透射电子显微镜，其将出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像与业界领先的能量色散 X 射线光谱 (EDS) 信号检测相结合。采用构合映射的 2D/3D 化学表征由具有独特清洁度的 4 个柱内 SDD Super-X 探头执行。Talos F200X 扫描透射电子显微镜在所有维度下均可实现极快速精准的 EDS 分析，以及在进行动态显微镜检查时实现导航快速的高分辨率 TEM 和 STEM（HRTEM 和 HRSTEM）成像。Talos F200X 扫描透射电子显微镜还具有较低的环境敏感度；仪器外壳可调节 TEM 室中空气压力波、气流和细微温度变化的影响。

Talos F200X (S)TEM 可在多维度下对纳米材料进行快速、精确的定量表征。由于具有旨在提高通量、精度和易用性的创新功能，Talos F200X (S)TEM 是院校、政府、半导体以及工业环境高级研究和分析的理想选择。

最近对在高分辨率下进行大面积相关性成像的需求有所增加，因为这使研究人员在获得统计学上稳定的数据的同时也能保留其观测结果的背景。Thermo Scientific Maps 软件（由 Thermo Scientific Velox 软件启用）自动采集样品的一系列图像，并将它们拼接在一起以形成一幅大尺寸最终图像。甚至可以在无人值守的情况下进行图像采集。 APW（自动化 颗粒工作流程） 包具有本节所述的所有优点，并利用  Thermo Scientific Avizo2D软件在专用处理 PC 上添加了独特的处理功能。您可以自动获取大小、面积、周长、形状、因子、接触点等纳米颗粒参数。全自动且无人值守软件包可使您全天候使用 Talos F200X (S)TEM ，获得更好的统计数据并显著改善可重复性（因为不存在操作员偏差）。

Align Genie 自动化软件减轻了新手操作员的学习负担，减少了多用户环境中的紧张气氛，并为经验丰富的操作员缩短了数据获得周期。

选择高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将极佳 (S)/TEM 成像及极佳能量分辨率相结合。 

Thermo Scientific Velox 软件可实现对多模式数据的快速、轻松的采集和分析。