- 产地:
- 日本
- 型号:
- AUW-D系列


率先在AUW-D系列半微量天平中使用新一代传感器Unibloc
全自动内校:PSC和Clock-CAL
使用者可以使用两中全自动校准模式。“PSC”是根据当温度发生变化,天平会自动校准,而“Clock-CAL” 是在预定的时间,天平会自动校准。

GLP/GMP/ISO校准记录
通过打印机,校准记录可以自动打印输出。
时间、日期可以打印输出,符合GLP/GMP/ISO要求


Windows直通视窗
测定数据可直接输到Windows应用程序上,无需安装其它软件。
如果您要把“Windows直通视窗”用在“Windows 7”、“Windows VISA ”或者USB输出中,可联系我们当地代理商。



| 型号 | 量程(g) | 精度(mg) | 重复性(mg) | 线性(mg) | 平均响应时间(S) | 称盘尺寸(mm) |
| AUW220D | 220/82 | 0.1/0.01 | 0.1/0.05 | 0.2/0.1 | 3/15 | 80 |
| AUW120D | 120/42 | 0.1/0.01 | 0.1/0.02 | 0.2/0.03 | 3/12 | 80 |
半微量分析天平AUW-D系列由岛津企业管理(中国)有限公司 为您提供,如您想了解更多关于半微量分析天平AUW-D系列报价、参数等信息 ,欢迎来电或留言咨询。













第1年


移动式数字摄影X线系统 MUX-200D
USF-2000A超声波疲劳试验机
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岛津X射线衍射仪XRD-6000
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半微量分析天平AUW-D系列

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