EDX-LE Plus能量色散型X射线荧光分析仪

针对外检等可对多数产品以管理值为标准检测有害元素含量是否达标而使用的筛选分析，被进一步要求其提高现场操作性和降低运行成本。而EDX-LE Plus就是为了应对这种需求开发出来的装置。

由于配备了无需液氮进行冷却的检测器，因此大幅削减了使用时的运行成本。

为延长X光管的寿命而进行的光管老化（稳定性运转）是装置管理上必不可缺的。在装置长期不运行的情况下，再次启动时需要对X射线光管进行老化处理，而该装置可自动执行该功能以防故障发生，进而提高操作性。

为了随时得到准确的分析结果装置需要进行校正，而用户们希望尽可能在短时间内完成校正时的操作和判定。EDX-LE Plus在开启仪器后会对能量校正和定量值校正的操作进行帮助，当需要进行校正时会自动进行校正。

尽可能将需要荧光X射线分析知识的操作步骤自动化，可进行RoHS法规5元素+氯元素（选配）的高速筛选分析。EDX-LE Plus从开始分析到得到结果只需要（根据样品）约1分钟。不仅可进行高速筛选分析，同时维持了高可信性的分析水平

电源ON之后只需15分钟的稳定时间就可开始分析。
当对象元素含量合格与否的判定确认后，为缩短时间装置会自动停止测定，但该仪器也可进行高灵敏度、高可信性的分析。装置内置有1点工作曲线可进行无标样的定量分析。
下图为塑胶材料（PVC材料包裹的线材）的测定实例。管理标准简单的显示为OK、NG、灰色区域。 *本实例的管理标准设定为RoHS法规最大允许浓度标准。

在日常操作中根据产品的不同会经常变更管理值，而该产品可以根据管理方法对筛选分析条件轻松自定义。从开始分析到制成分析报告所有操作都可以更有效的进行。另一方面，该装置在软件操作上配备了权限限制设定，从而避免了没有变更筛选分析条件权限的人员由于误操作而改变条件的现象。

操作简便，一个指令即可开始全自动测定。
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断，现在改由装置自动判断，即使初学者也可简便·高精度地测定。

将样品放在分析位置，利用样品图像观察装置确认分析位置。

选择分析区域。

关闭样品室。

一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。

点击开始。

测定结束后，画面上将清楚显示5种元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（测定偏差）］。

点击即可显示［结果列表］或［创建报告书］。

只需1次点击，便可根据预先登录的分析条件，自动执行从测定到结果的一系列操作。

测定异物或者测定包含多个部位的样品时，通过样品图像观察组件在观察样品的同时，可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时，可以使用准直器，更改X射线照射区域。
（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）

即使含量相同的样品，在形状和厚度不同时，X射线强度将发生变化，得到的定量值也会受到影响，EDX-LE Plus通过使用BG内标法*，可以排除形状和厚度的影响，取得高精度结果。

※BG内标法
　通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。

已保存数据可以用Excel形式列表显示。

最大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品，令紧凑型机身望尘莫及。

在RoHS/ELV、卤素筛选分析基础上实现Sb元素的测定

   • 无需改造硬件
   • 仅需替换管理样品
   • RoHS指令、卤素和Sb元素的7种元素(Cd,Pb,Hg,Br,Cr,Cl,Sb)能够在「同一条件」下进行测定

※初次导入时需要本公司工程师进行软件设定的变更及性能确认。
※根据使用环境的不同有可能出现需要软件升级的情况。

规格

1. 可进行RoHS/ELV对象元素以外的定性·定量分析！
2. 根据分析目的的不同，可设定详细的分析条件和解析条件！
3. 可通过薄膜FP法分析多层膜的膜厚、组成及其附着量！
4. 可通过匹配功能进行钢种及种类的判断！

详细情况敬请咨询当地销售。