林赛斯 薄膜激光导热测量仪

型号：

TF-LFA

产地：

德国

材料的热物理性质以及zui终产品的传热优化在工业应用领域变得越来越重要。

??经过几十年的发展，闪射法已经成为zui常用的用于各种固体、粉末和液体热导率、热扩散系数的测量方法。

薄膜热物性在工业产品中正变得越来越重要，如：相变光盘介质、热电材料、发光二极管（LED ） ，相变存储器、平板显示器以及各种半导体。在这些工业领域中，特定功能沉积膜生长在基底上以实现器件的特殊功能。由于薄膜的物理性质与块体材料不同，在许多应用中需要专门测定薄膜的参数。

??基于已实现的激光闪射技术，LINSEIS TF-LFA 薄膜导热测试仪(Laserflash for thin films)可以测量80nm——20μm厚度薄膜的热物理性质。

1.瞬态热反射法（后加热前检测（RF））:

由于薄膜材料的物理性质与基体材料显著不同，必需要有相应的技术来克服传统激光闪射法的不足，即瞬态热闪射法。

?  测量模型与传统激光闪射法相同：检测器和激光器在样品两侧。考虑到红外探测器测试薄膜太慢，因此检测是通过热反射方法完成的。该技术的原理是材料在加热时，表面反射率的变化可zui终用于推导出热性能。测量反射率随时间的变化，得到的数据代入包含的系数模型里面并快速计算出热性能。

2. 时域热反射法（前加热前检测（FF））:

时域热反射技术是另一种测试薄层或薄膜热性能（热导率，热扩散率）的方法。测量方式的几何构造被称为“前加热前检测（FF）”，因为检测器和激光在样品上的同一侧。该方法可以应用于非透明基板上不适合使用RF技术的薄膜层。

3. 瞬态热反射法（RF）和时域热反射法（FF）相结合:

两种方法可以集成在一个系统中并实现两者优点的结合。

温度范围*	RT
	RT -- 500°C
	-100°C -- 500°C
激光器	Nd:YAG 激光
zui大脉冲电流	90mJ (软件控制)
脉宽	8 ns
激光探头	HeNe-激光器 (632nm), 2mW
前端热反射	Si-PIN-Photodiode, 有效直径: 0.8 mm,
	直流电压 … 400MHz, 响应时间: 1ns
后端热反射	quadrant diode, 有效直径: 1.1 mm
	直流电压 … 100MHz, 响应时间: 3.5ns
测量范围	0,01 mm2/s -- 1000 mm2/s
样品直径	圆形样品 ? 10...20 mm
样品厚度	80 nm -- 20 μm
样品数量	6样品自动进样器
气氛	惰性、氧化性、还原性
真空度	10E-4mbar
电路板	集成式
接口	USB

 *可更换炉体

*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。

注：该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证，不可用于临床诊断或治疗等相关用途

售后服务承诺

免费上门安装：是

保修期：1年

是否可延长保修期：是

保内维修承诺：按需

报修承诺：按需

免费仪器保养：按需

免费培训：是

现场技术咨询：有