布鲁克新品发布：四分区SDD斜插式大面积EDS—XFlash® 7200 FIRE

    【仪器仪表网 新品动态】近日，布鲁克正式推出基于四分区SDD架构的斜插式大面积能谱仪（EDS）——XFlash® 7200 FIRE。该探测器有效面积达200 mm²，拥有优异X射线收集立体角；四组独立SDD芯片并行工作，实现超高计数率，同时在大通量下保持优异能量分辨率；无窗设计zui大化低能X射线探测效率，显著提升轻元素灵敏度。XFlash® 7200 FIRE的发布，再次树立扫描电镜元素分析行业新标杆，为材料科研与失效分析提供强大工具。

　　该产品突破传统大面积EDS在吞吐量与分辨率间的固有矛盾，适用于含轻元素电池材料、电子束敏感生物样品、谱峰严重重叠的半导体器件等高难度分析场景。还可与布鲁克QUANTAX系列eWARP、XTrace 2等协同工作。实际案例显示，在塔形冠盖藻、CIGS薄膜太阳能电池及Ni基高温合金等样品中，均获得高质量元素面分布及清晰的谱峰分离效果（如Ta-M、W-M、Re-M重叠峰）。