会员登录
|
免费注册
|
忘记密码
|
管理入口
返回主站
|
|
保存桌面
|
手机浏览
|
联系方式
|
购物车
企业免费会员
第1年
TESCAN 泰思肯(中国)
二次离子质谱 纳米焦点CT 扫描电镜 FIB-SEM 透射电镜
网站首页
供应产品
公司介绍
公司新闻
荣誉资质
联系方式
供应产品
公司新闻
荣誉资质
搜索
产品分类
暂无分类
联系方式
联系人:沈女士
电话:4008035117,16619786869
站内搜索
供应产品
公司新闻
荣誉资质
首页
>
供应产品
供应产品
图片
产品
TESCAN MIRA 场发射定制版扫描电镜(AMU))
面议
0询价
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 Be元素测定
面议
0询价
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 轻元素分析
面议
0询价
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 微量元素分析
面议
0询价
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 B元素分析
面议
0询价
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 Li元素分析
面议
0询价
TESCAN UniTOM高分辨率三维 X 射线显微镜
面议
0询价
TESCAN UniTOM高分辨率三维 X 射线显微镜 材料研究
面议
0询价
第
1
页/共
12
页
首页
上一页
下一页
尾页
©2026 TESCAN 泰思肯(中国) 版权所有 技术支持:
仪器仪表网
访问量:14