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高德英特（北京）科技有限公司

俄歇电子能谱（AES），X光电子能谱仪(XPS/ESCA)，二次离子质谱

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PHI 710俄歇电子能谱仪
PHI公司的PHI710扫描俄歇纳米探针是一台设计独特的高性能的俄歇电子能谱（AES）仪器。该设备能分析纳米级特征区域,超薄薄膜和多 		2020-01-03
PHI 4700 AES俄歇分析仪
??在开发新材料及薄膜制程上，为了有助于了解材料组成间的相互作用及解决工艺流程的问题，材料组成或薄膜迭层的深度分析是非常重 		2020-01-03
PHI Quantera II扫描聚焦XPS微探针
?PHI Quantera II扫描XPS微探针是建基于业界荣获zui多殊荣的Quantum 2000和Quantera SXM之上zui新研发的XPS分析仪器，其革命性的技 		2020-01-03
PHI X-tool 全自动扫描型微区XPS探针
PHI X-tool是一款操作简单，同时具备高效高能的XPS。其秉承PHI-XPS独有的扫描聚焦X-ray系统，可通过单色化石英晶体叫X-ray直接聚 		2020-01-03
PHI 5000 Versaprobe III 多功能型扫描XPS微探针
PHI5000 VersaProbeIII是PHI扫描XPS微探针设备zui新产品,应用了PHI业界ling先的zhuan利扫描X-射线技术和zhuan利双束中和技术，成为更高水 		2020-01-03
PHI nanoTOF II飞行时间二次离子质谱仪
PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪™TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术，可检测表面 		2020-01-01
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