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台阶仪

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品牌名称
阿尔派
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北京
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产品详情
型号:
NanoMap-PS
产地:
美国

台阶仪

厚度47nm 标准样品,三次重复测量结果叠加   (无任何减噪修正,原始数据输出) 500um扫描, 2um探针


NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪

    AFM同款位移传感器,超高精度

    压电陶瓷驱动扫描,jue对无内源振动

    自集成主动反馈式防震系统

    真正无需额外辅助防震系统,实现高重复性纳米测量

    纳米量级科学研究的必备产品



    NanoMap-PS 台阶仪可以应用在半导体,光伏/太阳能,光电子,化合物半导体,OLED,生物医药,PCB封装等领域的薄膜厚度,台阶高度,粗糙度(Ra,Rq,Rmax...),划痕深度,磨损深度,薄膜应力(曲定量率半径法)等定量测量方面。其高精度,高重复性,自动探索样品表面,自动测量深受广大客户欢迎。

    测量表面可以覆盖多种材料表面:金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等,对于植物表面,生物材料,聚合物表面,光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高,稳定性好。热噪声是同类产品zui低的。垂直分辨率可达0.1nm 。 可测表面,包括透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛光、粗糙材料,金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等;


    AEP的技术日新月异。 欲了解zui新的产品性能参数,请与我们联系。

    主要参数 :

    垂直分辨率             0.1nm

    垂直zui大量程         1000um
    探针接触力             0.03mg-100mg

    平台范围                 直径150毫米(可选200毫米或更大)
    高清图像                  4级放大,彩色CCD
    成像光源                  双长寿命强光LED

    金刚石探针               0.5um 到 25um 可选



    关键词:轮廓仪、形貌仪、磨损体积测量仪、台阶仪、薄膜测厚仪、三维表面轮廓仪、三维轮廓仪、白光干涉仪、三维台阶仪、三维薄膜分析仪、三维形貌仪、三维粗糙度仪、表面轮廓仪、表面台阶仪、薄膜分析仪、表面形貌仪、表面粗糙度仪、非接触式轮廓仪、非接触式台阶仪、非接触式表面形貌仪、非接触式表面粗糙度仪、接触式轮廓仪、接触式台阶仪、接触式表面形貌仪、接触式表面粗糙度仪、探针式轮廓仪、探针式台阶仪、探针式表面形貌仪、探针式表面粗糙度仪、双模式轮廓仪、双模式台阶仪、双模式表面形貌仪、双模式表面粗糙度仪、三维表面轮廓仪、三维表面台阶仪、三维表面形貌仪、三维表面粗糙度仪维表面形貌仪、三维表面粗糙度仪 stulye profiler,台阶仪台阶仪台阶仪台阶仪台阶仪台阶仪台阶仪台阶仪台阶仪,bruker,Daktek,Veeco,Dektak XT,Ambios, KLA-Tencor,D-100,D-120,ST-100,ST-200,ST-300,


    XP-1/XP-2;XP-100(D100)/XP-200(D120)/XP-300;α-step IQ(100,200,250,500);α-step P6;α-step P16+(P1,P2,P10,P11,P11,P15);α-step P16+0F;  KLA-Tencor公司

    光学轮廓仪(白光干涉仪/ 移相干涉仪);MicroXam 100;MicroXam 1200



    注:该仪器未取得中华人民共和国医疗器械注册证,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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